絶縁ワニスの耐放射線性

森田 洋右; 瀬口 忠男; 吉田 健三; 山本 康彰*; 柳生 秀樹*

EIM-84-129, p.9 - 18, 1984/00

近年、ポリイミド系を始めとする新たな高分子絶縁材料が開発され、利用されるようになってきた。しかし、これらの材料の耐放射線性試験は一般に、高線量率の線、あるいは電子線照射で行なわれており、低線量率で長期間(例えば、数百rad/h,数十年)に相当する試験はほとんど行なわれていない。本研究では各種耐熱絶縁ワニス(ポリイミド,ポリエステルイミド,ポリアミドイミド,変性ポリエステル系)をえらび、これらに低線量率照射を模擬する酸素加圧下照射(酸素圧、7kg/cmG,30kg/cmG)を行い、ワニスの照射劣化を主に電気特性やゲル分率によって評価した。また、放射線の他に熱,熱水蒸気を組合せた複合劣化試験を行ないワニスの劣化挙動も調べた。これらの結果、ポリイミドワニスが優れた耐放射線性を低線量率照射条件においても示すことが明らかとなった。